Please use this identifier to cite or link to this item:
http://dspace.www1.vlsu.ru/handle/123456789/2062
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Сергеев А. Г. | - |
dc.date.accessioned | 2011-01-20T10:47:31Z | - |
dc.date.available | 2011-01-20T10:47:31Z | - |
dc.date.issued | 2010 | - |
dc.identifier.uri | http://e.lib.vlsu.ru:80/handle/123456789/2062 | - |
dc.description | 2010 | en_US |
dc.subject | Нанометрология | en_US |
dc.subject | Наноизмерение | en_US |
dc.subject | Учебное пособие | en_US |
dc.subject | Микроскопия | en_US |
dc.subject | Метрология | en_US |
dc.title | Введение в нанометрологию : учебное пособие по специальностям "Метрология и метрологическое обеспечение" (200501) и "Управление качеством" (220501). | en_US |
Appears in Collections: | 26. Метрология, стандартизация, сертификация |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.