О системе DSpace
Поиск в архиве
Расширенный поиск
Главная страница
Просмотр
Разделы
и коллекции
Даты выпуска
Авторы
Заголовки
Темы
Зарегистрированным:
Обновления на e-mail
Мой архив
ресурсов
Редактировать профиль
Справка
О DSpace
DSpace ВлГУ
>
Просмотр собрания по группе - Авторы Талицкий Е. Н.
Перейти к:
0-9
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
или введите несколько первых букв:
Сортировка:
по дате выпуска
по заголовку
по дате сохранения
Упорядочить:
по возрастанию
по убыванию
Вывести на страницу:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
Авторы:
все
1
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
Отображение результатов 1 до 11 из 11
Дата выпуска
Название
Авторы(ы)
2002
Анализ точности электронных средств : методические указания к лабораторным работам.
Талицкий Е. Н.
2001
Защита электронных средств от механических воздействий. Теоретические основы : учебное пособие.
Талицкий Е. Н.
2005
Математические основы проектирования электронных средств : конспект лекций.
Талицкий Е. Н.
2007
Математические основы проектирования электронных средств: курс лекций
Талицкий Е. Н.
2004
Механические воздействия и защита электронной аппаратуры : учебное пособие : в 3 ч. Ч. 1.
Талицкий Е. Н.
2006
Механические воздействия и защита электронной аппаратуры: учебное пособие: в 3 ч. Ч. 3
Талицкий Е. Н.
2005
Механические воздействия и защита электронной ппаратуры : учебное пособие : в 3 ч. : Ч. 2.
Талицкий Е. Н.
2002
Механические воздействия и защита электронных средств : методические указания к лабораторным работам : Ч. 1.
Талицкий Е. Н.
;
Акаемов Д. Г.
;
Варакин А. А.
2013
Обеспечение надёжности электронных средств : конспект лекций
Талицкий Е. Н.
;
Шумарин С. В.
2006
Оптимизация параметров конструкций и техпроцессов производства электронных средств : методические указания к лабораторным работам.
Талицкий Е. Н.
2009
Оптимизация параметров конструкций и техпроцессов производства электронных средств: методические указания к лабораторным работам
Талицкий Е. Н.
Отображение результатов 1 до 11 из 11
DSpace Software
Copyright © 2002-2005
MIT
and
Hewlett-Packard
-
Обратная связь